[发明专利]光纤成像式快速光参数测试仪在审
申请号: | 201310361613.3 | 申请日: | 2013-08-13 |
公开(公告)号: | CN104374545A | 公开(公告)日: | 2015-02-25 |
发明(设计)人: | 金尚忠;石岩;王龙吾 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开一种光参数测试仪,用于光源或反射物发出光参数角度分布的测量,其中包含一个半圆形光纤固定架,多根光纤的一端排列在光纤固定架上,发光物体位于光纤固定架的圆心位置,由光纤接收光源向各个方向发射的光线。光纤的另一端排列成阵列并且位于一个平面上,经过光学系统成像在一个图像传感器上,由图像传感器探测光纤采集及传出的光信号,图像传感器的像素位置与光纤所在的位置对应,从而与被测物的发光角度对应,被测物固定于一个旋转装置,可以进行360度旋转,完成光参数分布的快速测试。 | ||
搜索关键词: | 光纤 成像 快速 参数 测试仪 | ||
【主权项】:
一种光纤成像式光参数分布测试仪,包括被测物1,半圆形光纤固定架2,光纤3组成的光纤束4,光纤束固定架5,成像光学系统6,图像传感器7,数据处理系统8:其中的光源1位于半圆形光纤固定架2的圆心位置,光纤3的一段固定于光纤固定架2,并且其端面位于一个以发光体1为球心的球面上,光纤3由固定架引出,形成光纤束4,光纤束4的另一端紧密排列由光纤束固定架5固定,其端面位于一个平面401上,401通过光学系统6与图像传感器7形成物象共轭关系,图像传感器7接收到光纤上的光强分布,转换为电信号,由数据处理系统8进行处理。
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