[发明专利]绝缘栅双极型晶体管及其制造方法无效
申请号: | 201310363328.5 | 申请日: | 2013-08-20 |
公开(公告)号: | CN103413761A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 吴健;高东岳 | 申请(专利权)人: | 上海北车永电电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L21/28;H01L29/739 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 成春荣;竺云 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路制造领域,公开了一种绝缘栅双极型晶体管及其制造方法。本发明中,包括以下步骤:提供第二半导体类型衬底;在该衬底上生成第一半导体类型外延层;生成位于外延层中的第二半导体类型阱;生成位于阱中的第一半导体类型掺杂区;生成发射极通孔,并采用孔注入的方法通过发射极通孔生成第二半导体类型掺杂区和发射极金属电极。采用孔注入的方法使第二半导体类型掺杂区和发射极金属电极短路在一起,省去了单独生成第二半导体类型掺杂区需要的工艺,比传统工艺少用一块制作第二半导体类型掺杂区的光刻掩膜板,从而缩短工艺开发周期,降低工艺成本。同时,有效地降低寄生晶体管的放大倍数,抑制闩锁现象,进而有效地提高安全工作区。 | ||
搜索关键词: | 绝缘 栅双极型 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种绝缘栅双极型晶体管的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:提供第二半导体类型衬底;在该衬底上生成第一半导体类型外延层;生成位于所述外延层中的第二半导体类型阱;生成位于所述阱中的第一半导体类型掺杂区;生成发射极通孔,并采用孔注入的方法通过所述发射极通孔生成第二半导体类型掺杂区和发射极金属电极,其中,该第二半导体类型掺杂区位于所述阱中,该第二半导体类型掺杂区和所述第一半导体类型掺杂区连接形成PN结,该第二半导体类型掺杂区的掺杂深度比该第一半导体类型掺杂区的掺杂深度深,且所述发射极金属电极的一端位于该第一半导体类型掺杂区中,所述第二半导体类型掺杂区与该发射极金属电极连接,该第二半导体类型掺杂区位于该发射极金属电极的下方,且所述第一半导体类型掺杂区和所述第二半导体类型掺杂区的掺杂浓度比所述阱的掺杂浓度高。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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