[发明专利]一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法有效

专利信息
申请号: 201310363809.6 申请日: 2013-08-20
公开(公告)号: CN103394982A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 张伟才;陶术鹤;陈建跃;康洪亮;赵权 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: B24B9/16 分类号: B24B9/16
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法。砂轮粗倒角槽直径比晶片厚度小120~150μm,半角度18~22°,深度1000±100μm,金刚石粒度600~1000#;精倒角槽直径比晶片厚度小160~180μm,半角度11°,深度1500±100μm,金刚石粒度1000~2000#。粗倒角砂轮转速2500~5000rpm;加工1~2圈;晶片转速16~20mm/s;精倒角砂轮转速3000~5000rpm;加工2~4圈;晶片转速10~15mm/s。采用本发明对晶片边缘倒角,边缘轮廓精度高,边缘质量一致性好,有效解决厚层外延生长过程中因硅片边缘缺陷导致的滑移线问题。
搜索关键词: 一种 加工 外延 用硅单 晶片 倒角 砂轮 方法
【主权项】:
一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮,其特征在于,所述倒角砂轮包括数个粗倒角砂轮槽(1)和数个精倒角砂轮槽(2),粗倒角砂轮槽直径φr比待加工硅单晶片厚度T小120~150μm,粗倒角砂轮槽半角度θr为18~22°,粗倒角砂轮槽深度Dr为1000±100μm,粗倒角砂轮槽金刚石粒度为600~1000#;精倒角砂轮槽直径φf比待加工硅单晶片厚度T小160~180μm,精倒角砂轮槽半角度θf为11°,精倒角砂轮槽深度Df为1500±100μm,精倒角砂轮槽金刚石粒度为1000~2000#。
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