[发明专利]一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法有效
申请号: | 201310363809.6 | 申请日: | 2013-08-20 |
公开(公告)号: | CN103394982A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 张伟才;陶术鹤;陈建跃;康洪亮;赵权 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
主分类号: | B24B9/16 | 分类号: | B24B9/16 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 王凤英 |
地址: | 300220*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法。砂轮粗倒角槽直径比晶片厚度小120~150μm,半角度18~22°,深度1000±100μm,金刚石粒度600~1000#;精倒角槽直径比晶片厚度小160~180μm,半角度11°,深度1500±100μm,金刚石粒度1000~2000#。粗倒角砂轮转速2500~5000rpm;加工1~2圈;晶片转速16~20mm/s;精倒角砂轮转速3000~5000rpm;加工2~4圈;晶片转速10~15mm/s。采用本发明对晶片边缘倒角,边缘轮廓精度高,边缘质量一致性好,有效解决厚层外延生长过程中因硅片边缘缺陷导致的滑移线问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 加工 外延 用硅单 晶片 倒角 砂轮 方法 | ||
【主权项】:
一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮,其特征在于,所述倒角砂轮包括数个粗倒角砂轮槽(1)和数个精倒角砂轮槽(2),粗倒角砂轮槽直径φr比待加工硅单晶片厚度T小120~150μm,粗倒角砂轮槽半角度θr为18~22°,粗倒角砂轮槽深度Dr为1000±100μm,粗倒角砂轮槽金刚石粒度为600~1000#;精倒角砂轮槽直径φf比待加工硅单晶片厚度T小160~180μm,精倒角砂轮槽半角度θf为11°,精倒角砂轮槽深度Df为1500±100μm,精倒角砂轮槽金刚石粒度为1000~2000#。
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