[发明专利]一种基于CCD探测的X射线组合折射透镜聚焦性能测试方法有效
| 申请号： | 201310365947.8 | 申请日： | 2013-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN103454070A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 乐孜纯;董文 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人： | 王利强 |
| 地址： | 310014 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种X射线组合折射透镜的聚焦性能测试方法，实现该方法的装置包括底座导轨、依次位于底座导轨上的调整台、X射线组合折射透镜和X射线CCD，X射线光管/激光器、X射线组合折射透镜、X射线CCD形成探测光路，包括如下步骤：（1）在显微镜下观察并制作标记标示X射线组合折射透镜的光轴；（2）将激光器移入探测光路，使得激光器与X射线组合折射透镜上的两个光轴标记线重合；（3）将激光器移出光路，同时X射线光管移入探测光路；（4）X射线CCD进行图像记录，通过对所记录图像进行图像处理，得到X射线组合折射透镜的聚焦光斑尺寸和光斑强度，得到聚焦性能测试结果。本发明检测方便、减低成本、实用性良好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ccd 探测 射线 组合 折射 透镜 聚焦 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于CCD探测的X射线组合折射透镜聚焦性能测试方法，其特征在于：实现该方法的装置包括底座导轨、依次位于所述底座导轨上的调整台、X射线组合折射透镜和X射线CCD，X射线光管、激光器可横向移动地安装在所述调整台上，所述X射线光管/激光器、X射线组合折射透镜、X射线CCD形成探测光路，所述聚焦性能测试方法包括如下步骤：（1）所述X射线组合折射透镜的光轴在制作时已经确定，在显微镜下观察并制作标记标示其光轴，以备激光校准时使用；（2）将激光器移入探测光路，使得激光器与X射线组合折射透镜上的两个光轴标记线重合；（3）将激光器移出光路，同时X射线光管移入探测光路；（4）X射线CCD进行图像记录，通过对所记录图像进行图像处理，得到X射线组合折射透镜的聚焦光斑尺寸和光斑强度，得到聚焦性能测试结果。
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