[发明专利]一种基于交替迭代运算的荧光分子断层成像重建方法有效
申请号: | 201310367827.1 | 申请日: | 2013-08-21 |
公开(公告)号: | CN103393410A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 陈多芳;易黄建;朱守平;陈冬梅;李维;金征宇;梁继民;田捷 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 | 代理人: | 郭官厚 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于交替迭代运算的荧光分子断层成像重建算法,交替使用了加权的代数重建技术与最速下降法来求解,其实现步骤如下:(1)获取测量数据;(2)建立测量数据与目标分布之间的线性关系;(3)构建有约束条件的2范数极小化问题;(4)交替使用加权的代数重建技术与最速下降法求解极小化问题,获得目标分布图。本发明基于光传输理论与有限元方法,利用了光学特性参数和解剖结构等先验信息,采用多点激发与多点测量,使尽可能多的获得测量数据,降低了问题的病态性。交替使用加权的代数重建技术与最速下降法求解问题,有效提高了荧光分子断层成像的重建结果,在分子影像、重建算法等领域有重要的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 交替 运算 荧光 分子 断层 成像 重建 方法 | ||
【主权项】:
一种基于交替迭代运算的荧光分子断层成像重建方法,其特征在于:基于光传输模型和有限元理论,将重建目标的光学特性参数和解剖结构信息作为先验信息,建立表面的测量数据与重建目标内部荧光目标分布的线性关系,将该线性关系转化为有约束条件的极小化问题,交替执行加权的代数重建技术与最速下降法来求解,从而获得重建目标内部的荧光目标的三维分布与浓度。
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