[发明专利]双线激光量测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201310369717.9 申请日: 2013-08-22
公开(公告)号: CN104422387A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 张滋;李博;柳庆 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/03;G01B11/06;G01B11/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种双线激光量测系统及方法,应用于量测设备中,该量测设备安装有第一激光传感器以及第二激光传感器。当量测设备只开启其中之一个激光传感器时,该双线激光量测系统为其中之一激光传感器的有效扫描区域建立一个单一坐标系,并基于该单一坐标系下对待测物体进行量测。当量测设备同时开启多个激光传感器时,该双线激光量测系统为安装在量测设备中的每一个激光传感器分别建立一个坐标系,将每一个激光传感器所采集的量测数据进行坐标拟合,并基于坐标拟合关系来计算待测物体的量测结果。实施本发明,能够根据激光传感器的数量以及安装方式,对将每一个激光传感器所采集的量测数据进行数据拟合,从而提高量测待测物体的精确度。
搜索关键词: 双线 激光 系统 方法
【主权项】:
一种双线激光量测系统,运行于量测设备中,该量测设备安装有第一激光传感器和第二激光传感器,其特征在于,所述的双线激光量测系统包括:初始化模块,用于获取第一激光传感器的第一有效扫描区域以及第二激光传感器的第二有效扫描区域,以及判断量测设备是开启其中之一个还是两个激光传感器对待测物体进行量测;坐标系建立模块,用于当量测设备同时开启第一激光传感器和第二激光传感器时,为第一有效扫描区域建立第一坐标系,为第二有效扫描区域建立第二坐标系,将第一坐标系作为参考坐标系,以及设置第二坐标系的坐标旋转参数及坐标平移参数;坐标拟合模块,用于根据坐标旋转参数将第二坐标系下的测量数据以第二坐标系的原点为中心进行坐标旋转,以及将第二坐标系下的测量数据按照坐标平移参数进行坐标平移来建立第一坐标系下的测量数据与第二坐标系下的测量数据的坐标拟合关系;量测模块,用于根据建立的坐标拟合关系利用第一激光传感器采集的量测数据与第二激光传感器采集的量测数据进行坐标量测计算来产生待测物体的量测结果。
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