[发明专利]一种大量程范围的折射率测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310375467.X 申请日: 2013-08-26
公开(公告)号: CN103454247A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 杨克成;叶骏伟;夏珉;李微;郭文军;刘昊;阮丛喆 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N21/43 分类号: G01N21/43
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 朱仁玲
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种折射率测量装置,包括:单色角点光源照明模块,用于产生进行测量的两束光束;参考光路模块,其中一束作为参考光入射到该参考光路模块中,经全反射后出射带有原始光场信息的参考信息光;探测模块,其与待测物接触形成介质面,另一束光束作为探测光入射到探测模块并经介质面反射后出射耦合有待测物质折射率信息的探测信息光;反射光能量收集模块,分别接收参考信息光和探测信息光,并转换为电信号;以及图像处理模块,其对两路图像进行比较,得到相对反射率分布,可提取出待测物质的折射率信息。本发明还公开了一种折射率测量方法。本发明的装置和方法具有测量范围大、可普遍适用于气体、液体以及玻璃材料等物质的折射率测量。
搜索关键词: 一种 量程 范围 折射率 测量 装置 方法
【主权项】:
一种折射率测量装置,可实现从气体、液体到玻璃材料的全域范围内折射率的测量,其特征在于,包括:单色角点光源照明模块(1),其用于产生进行测量的两束光束;参考光路模块(3),其用于生成参考光,即所述单色角点光源照明模块(1)产生的两束光束中的其中一束作为参考光入射到该参考光路模块(3)中,经全反射后出射带有原始光场信息的参考信息光;探测模块(2),其与待测物接触形成介质面(S2),所述单色角点光源照明模块(1)产生的另一束光束作为探测光入射到该探测模块(2)并经该介质面(S2)反射后出射耦合有所述待测物质折射率信息的探测信息光;反射光能量收集模块(4),其用于分别接收所述参考信息光和探测信息光,并各自将其转换为电信号;以及图像处理模块(5),其对转换为电信号的两路图像进行比较,得到相对反射率分布,经处理即可提取出待测物质的折射率信息。
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