[发明专利]液晶面板的亮点检测方法有效
| 申请号： | 201310378441.0 | 申请日： | 2013-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN103454792A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 李佳;彭志龙;单庆增 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种液晶面板的亮点检测方法，属于显示领域。解决了现有的液晶面板的亮点检测方法无法检测出由于数据线与像素电极短路造成的亮点，导致容易发生漏检的技术问题。该液晶面板的亮点检测方法，包括：对液晶面板的栅线进行扫描，同时所述液晶面板的数据线输出低电平信号；关闭所述液晶面板的栅线，同时所述数据线输出高电平信号。本发明可用于检测ADS型液晶面板。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 亮点 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶面板的亮点检测方法，其特征在于，包括：对液晶面板的栅线进行扫描，同时所述液晶面板的数据线输出低电平信号；关闭所述液晶面板的栅线，同时所述数据线输出高电平信号。
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