[发明专利]一种LCD异物缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201310379001.7 | 申请日： | 2013-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN103440654A | 公开（公告）日： | 2013-12-11 |
| 发明（设计）人： | 杨育彬;高阳;赵九洋 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人： | 胡建华 |
| 地址： | 210093 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了LCD异物缺陷检测方法，包含如下步骤：图像缩放：利用双线性插值算法将图像缩放；标签检测：检测出标签位置，消除标签，得到图像OI；图像重建：利用奇异值分解方法对图像OI进行重建得到重建图像CI，并用图像OI减去重建图像CI获取差图DI；点状异物缺陷检测：对获取的差图DI进行阈值化缺陷分割，并通过轮廓检测统计轮廓数量并计算缺陷的总面积，判断是否存在点状异物缺陷；区域状异物缺陷检测：将差图DI分成num个窗口，对每个窗口进行区域异物缺陷检测，统计每个窗口中的平均灰度值和方差；线状异物缺陷检测：对差图DI使用边缘检测算法进行边缘检测，判断是否发生线状异物缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 lcd 异物 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种LCD异物缺陷检测方法，其特征在于，包含如下步骤：步骤1，图像缩放：利用双线性插值算法将图像缩放；步骤2，标签检测：检测出标签位置，消除标签，得到图像OI；步骤3，图像重建：利用奇异值分解方法对图像OI进行重建得到重建图像CI，并用图像OI减去重建图像CI获取差图DI；步骤4，点状异物缺陷检测：对获取的差图DI进行阈值化缺陷分割，并通过轮廓检测统计轮廓数量并计算缺陷的总面积，判断是否存在点状异物缺陷；步骤5，区域状异物缺陷检测：将差图DI分成num个窗口，对每个窗口进行区域异物缺陷检测，统计每个窗口中的平均灰度值和方差，num取值为大于等于2的自然数；步骤6，线状异物缺陷检测：对差图DI使用边缘检测算法进行边缘检测，判断是否发生线状异物缺陷。
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