[发明专利]加强等离子体处理系统中的等离子体增强蚀刻在审
申请号: | 201310379780.0 | 申请日: | 2013-08-27 |
公开(公告)号: | CN103632954A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 埃里克·赫德森;安德鲁·D·贝利三世;拉金德尔·迪恩赛 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01J37/32 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 发明涉及加强等离子体处理系统中的等离子体增强蚀刻,具体涉及一种蚀刻等离子体处理室中的衬底的方法,该等离子体处理室至少具有初级等离子体产生区域和通过半阻挡结构与所述初级等离子体产生区域分开的次级等离子体产生区域。所述方法包括从初级等离子体产生区域中的初级原料气体产生初级等离子体。该方法还包括从次级离子体产生区域中的次级原料气体产生次级等离子体,以使从次级等离子体中产生的物质中的至少一些能够迁移至初级等离子体产生区域。所述方法另外包括在用来自次级等离子体的迁移物质来加强初级等离子体之后用该初级等离子体蚀刻衬底。 | ||
搜索关键词: | 加强 等离子体 处理 系统 中的 增强 蚀刻 | ||
【主权项】:
一种用于蚀刻等离子体处理室中的衬底的方法,该等离子体处理室至少具有初级等离子体产生区域和通过半阻挡结构与所述初级等离子体产生区域分开的次级等离子体产生区域,该方法包括:提供初级原料气体进入所述初级等离子体产生区域;提供次级原料气体进入所述次级等离子体产生区域,所述次级原料气体与初级原料气体是不同的;从所述初级原料气体产生初级等离子体;从所述次级原料气体产生次级等离子体;至少使用所述初级等离子体和来自所述次级等离子体的中性物质来蚀刻所述衬底,所述中性物质从所述次级等离子体产生区域通过所述半阻挡结构迁移至所述初级等离子体产生区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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