[发明专利]鳍式场效应晶体管及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201310379947.3 申请日: 2013-08-27
公开(公告)号: CN104425599B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 张海洋 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种鳍式场效应晶体管及其形成方法,其中,鳍式场效应晶体管的形成方法包括:提供基底,在基底上形成有鳍部;在鳍部表面形成碳硅层;对碳硅层进行热分解,使部分厚度或全部厚度的碳硅层变成石墨烯层;对石墨烯层进行氢化处理,在石墨烯层表层形成含氢能隙结构;在石墨烯层上形成栅介质层,在栅介质层上形成横跨栅介质层的第一栅极;去除鳍部两端的栅介质层和石墨烯层,在暴露的鳍部表面形成具有掺杂的外延层,外延层与第一栅极之间为剩余的栅介质层和石墨烯层所隔开,位于鳍部两端具有掺杂的外延层分别作为源极、漏极。本技术方案的含氢能隙结构在石墨烯层中引入能隙,具有含氢能隙结构的石墨烯层作为沟道区,提高晶体管中载流子的迁移率。
搜索关键词: 场效应 晶体管 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,在所述基底上形成有鳍部;在所述鳍部表面形成碳硅层;对所述碳硅层进行热分解,所述碳硅层中的硅汽化,使全部厚度的碳硅层变成石墨烯层;对所述石墨烯层进行氢化处理,在所述石墨烯层表层形成含氢能隙结构;在具有含氢能隙结构的所述石墨烯层上形成栅介质层,在所述栅介质层上形成横跨栅介质层的第一栅极;去除所述鳍部两端的栅介质层和石墨烯层,在暴露的鳍部表面形成具有掺杂的外延层,所述外延层与第一栅极之间为剩余的栅介质层和石墨烯层所隔开,位于所述鳍部两端表面的具有掺杂的外延层分别作为源极、漏极;所述对碳硅层进行热分解的方法为:将所述碳硅层置于氩气气氛中,所述氩气气氛的温度范围为1500℃~2000℃;其中,对所述石墨烯层进行氢化处理包括:对氢气进行等离子体化形成氢等离子体;使用氢等离子体轰击石墨烯层过程中,对氢气进行等离子体化的功率范围是1W~500W;射频频率范围是2MHz~100MHz;氢气的流量范围是10sccm~500sccm。
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