[发明专利]一种芯片正装BGA封装方法无效
申请号: | 201310380293.6 | 申请日: | 2013-08-28 |
公开(公告)号: | CN103441080A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 李宗怿;顾骁 | 申请(专利权)人: | 江苏长电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所(普通合伙) 32210 | 代理人: | 唐纫兰 |
地址: | 214434 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种芯片正装BGA封装方法,所述方法包括以下步骤:步骤一、取一片基板;步骤二、装片;步骤三、金属线键合;步骤四、安装金属凸块;步骤五、塑封;步骤六、研磨;步骤七、电镀金属层;步骤八、植球。本发明的有益效果是:它在不增加BGA封装厚度的情况下,通过封装工艺形成整体金属散热装置,提高了整体散热效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 bga 封装 方法 | ||
【主权项】:
一种芯片正装BGA封装方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:步骤一、取一片基板取一片厚度合适的含印刷电路的基板;步骤二、装片在基板的正面通过导电或不导电粘结物质正装上芯片;步骤三、金属线键合在芯片正面与基板正面之间进行键合金属线作业;步骤四、安装金属凸块在完成装片打线的芯片周围的基板正面通过导热胶安装上多个第一金属块,在芯片正面通过导热胶安装上多个第二金属块;步骤五、塑封在步骤四完成金属凸块安装的基板正面进行环氧树脂塑封保护;步骤六、研磨在步骤五完成环氧树脂塑封后进行表面研磨,使第一金属凸块和第二金属凸块顶部露出塑封料表面;步骤七、电镀金属层在步骤六完成研磨后的塑封料表面电镀上一层金属层;步骤八、植球在步骤七完成电镀金属层后的基板背面植入多个金属球。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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