[发明专利]一种复合型沟槽栅肖特基器件结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310381189.9 申请日: 2013-08-28
公开(公告)号: CN103456627A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 郑晨炎;马清杰;陈采;龚大卫 申请(专利权)人: 中航(重庆)微电子有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/872;H01L29/06
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 401331 重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明提供一种复合型沟槽栅肖特基器件结构及其制造方法,包括:N型重掺杂的基片;N型轻掺杂的硅外延层,结合于所述N型重掺杂基片表面;至少两个沟槽,形成于所述硅外延层中;二氧化硅层,沉积于所述沟槽底部;第一金属硅化物层,形成于所述沟槽上部的侧壁;导电材料层,填充于所述沟槽上部;第二金属硅化物层,形成于所述硅外延层表面;以及正面电极层,形成于所述金属硅化物表面。本发明在沟槽底部采用厚栅氧化层MOS结构,沟槽侧壁采用高势垒肖特基结,这种复合型的沟槽栅能有效提高击穿电压、降低器件开关电容;采用复合型沟槽栅结构后,沟槽侧壁也成为肖特基结,在大电流下能进一步降低正向导通压降,并提高器件对浪涌冲击的耐受力。
搜索关键词: 一种 复合型 沟槽 栅肖特基 器件 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种复合型沟槽栅肖特基器件结构的制造方法,其特征在于,至少包括以下步骤:1)提供一N型重掺杂的基片,于所述基片表面形成N型轻掺杂的硅外延层;2)于所述硅外延层中形成至少两个沟槽,于所述沟槽表面形成热氧化层,并于所述沟槽内沉积二氧化硅层;3)去除沟槽上部的二氧化硅层,露出沟槽上部的侧壁;4)于沟槽上部的侧壁及所述二氧化硅层的表面沉积第一肖特基金属层,并采用热处理方法于所述沟槽上部的侧壁形成第一金属硅化物层,以在所述沟槽上部侧壁与所述硅外延层之间形成肖特基结;5)于沟槽上部内填充导电材料层,以在沟槽中形成MOS及肖特基复合型栅的肖特基单元漏电保护环结构;6)于所述硅外延层表面形成第二肖特基金属层,并采用热处理方法形成第二金属硅化物;7)于所述第二金属硅化物表面制作正面电极层。
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