[发明专利]一种复合型沟槽栅肖特基器件结构及其制造方法有效
申请号: | 201310381189.9 | 申请日: | 2013-08-28 |
公开(公告)号: | CN103456627A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 郑晨炎;马清杰;陈采;龚大卫 | 申请(专利权)人: | 中航(重庆)微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/872;H01L29/06 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 401331 重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明提供一种复合型沟槽栅肖特基器件结构及其制造方法,包括:N型重掺杂的基片;N型轻掺杂的硅外延层,结合于所述N型重掺杂基片表面;至少两个沟槽,形成于所述硅外延层中;二氧化硅层,沉积于所述沟槽底部;第一金属硅化物层,形成于所述沟槽上部的侧壁;导电材料层,填充于所述沟槽上部;第二金属硅化物层,形成于所述硅外延层表面;以及正面电极层,形成于所述金属硅化物表面。本发明在沟槽底部采用厚栅氧化层MOS结构,沟槽侧壁采用高势垒肖特基结,这种复合型的沟槽栅能有效提高击穿电压、降低器件开关电容;采用复合型沟槽栅结构后,沟槽侧壁也成为肖特基结,在大电流下能进一步降低正向导通压降,并提高器件对浪涌冲击的耐受力。 | ||
搜索关键词: | 一种 复合型 沟槽 栅肖特基 器件 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种复合型沟槽栅肖特基器件结构的制造方法,其特征在于,至少包括以下步骤:1)提供一N型重掺杂的基片,于所述基片表面形成N型轻掺杂的硅外延层;2)于所述硅外延层中形成至少两个沟槽,于所述沟槽表面形成热氧化层,并于所述沟槽内沉积二氧化硅层;3)去除沟槽上部的二氧化硅层,露出沟槽上部的侧壁;4)于沟槽上部的侧壁及所述二氧化硅层的表面沉积第一肖特基金属层,并采用热处理方法于所述沟槽上部的侧壁形成第一金属硅化物层,以在所述沟槽上部侧壁与所述硅外延层之间形成肖特基结;5)于沟槽上部内填充导电材料层,以在沟槽中形成MOS及肖特基复合型栅的肖特基单元漏电保护环结构;6)于所述硅外延层表面形成第二肖特基金属层,并采用热处理方法形成第二金属硅化物;7)于所述第二金属硅化物表面制作正面电极层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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