[发明专利]环境探测器在审

专利信息
申请号: 201310382055.9 申请日: 2013-08-28
公开(公告)号: CN104422661A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 刘哲;顾长志;夏晓翔;杨海方;李俊杰 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 代理人: 范晓斌;郭海彬
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种环境探测器,包括在探测时与待测介质接触的敏感元件,用于在入射探测光照射所述敏感元件时根据透过所述敏感元件的透射光谱中的响应峰位置来检测所述待测介质,所述敏感元件包括金属膜以及在所述金属膜中形成的多个互补金属开口谐振环。本发明的环境探测器制备方法简单,由于其工作波段在700nm至1500nm,可以有效避开光谱中水分子吸收的干扰,探测的准确性高。此外,本发明的互补金属开口谐振环上的结构为一层连续的图形金属层,可以作为电极,能够十分方便地对其施加电场信号,故具有更好的调制潜力。
搜索关键词: 环境 探测器
【主权项】:
一种环境探测器,包括在探测时与待测介质接触的敏感元件,用于在入射探测光照射所述敏感元件时根据透过所述敏感元件的透射光谱中的响应峰位置来检测所述待测介质,所述敏感元件包括金属膜以及在所述金属膜中形成的多个互补金属开口谐振环。
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