[发明专利]凹面闪耀光栅的刻划制作方法有效

专利信息
申请号: 201310383125.2 申请日: 2013-08-28
公开(公告)号: CN103439762A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 黄元申;丁卫涛;脱文刚;张大伟;韩姗;李柏承;徐邦联;王忠坦;黄运柏 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18;G03F7/00
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 脱颖
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 凹面闪耀光栅的刻划制作方法,包括步骤:提供曲面半径为r的球形凹面基片,将基片固定安装在能够进行横向分度运动的工作台上;提供在竖直方向上能够进行分度运动的刻划机构,刻划机构包含有刻刀。通过刻划机构的竖向分度运动来定位刻刀的竖向分度位置以及工作台的横向分度运动来定位基片的横向分度位置,使刻刀对基片执行预定刻划动作从而在基片上沿其最低凹面点横向两侧分别制得N级均匀分布并具有相同构型的刻槽。本发明将横向分度机制通过移动基片来实现,使横向分度机构与刻划机构分离;同时,通过预先计算精密确定每一级刻槽的横向和竖向位置;从而提高了刻划效率,极大地改善了刻划精度和槽型质量;得到的光栅具有相同法向的槽型。
搜索关键词: 凹面 闪耀 光栅 刻划 制作方法
【主权项】:
一种凹面闪耀光栅的刻划制作方法,包括步骤:提供基片,基片具有曲面半径为r的球形凹面;将基片固定在能够进行横向分度运动的工作台上,使得基片的球形凹面朝上并因此具有最低凹面点;提供能够进行竖向分度运动的刻划机构,刻划机构包含有刻刀;以及通过刻划机构的竖向分度运动来定位刻刀的竖向分度位置以及工作台的横向分度运动来定位基片的横向分度位置,使刻刀对基片执行预定刻划动作从而在基片上沿其最低凹面点横向两侧分别制得N级均匀分布并具有相同构型的刻槽,其中相邻两级刻槽顶点之间的直线间距均为d,N为大于0的整数;其中,刻划每一级刻槽时,基片的横向分度位置和刻刀的竖向分度位置均已被预先确定并被写入相应的计算机控制程序,通过计算机控制程序自动执行每一级刻槽的刻划动作;其中,将基片的最低凹面点设置为0点,则第1级刻槽所对应的球心圆心角α=d/r,第1级刻槽顶点与0点之间的连线与水平方向的夹角θ=α/2=α/2,第1级刻槽的横向与竖向分度位置分别为D1、H1;第N级刻槽所对应的球心圆心角为Ф=Nα,第N级刻槽顶点与0点之间的连线与水平方向的夹角θ=Ф/2=Nα/2,横向与竖向分度位置分别为DN、HN;当刻划第1级刻槽时,基片的第1级横向分度位置与0点横向分度位置之间的距离d′=D1=rsinα,刻刀的第1级竖向分度位置与0点竖向分度位置之间的距离 Δh = H 1 = 2 r sin 2 α 2 ; 刻划第N级刻槽时,基片的第N级横向分度位置与第N‑1级横向分度位置之间的距离d′=DN‑DN‑1=rsinNα‑rsin(N‑1)α,刻刀的第N级竖向分度位置与第N‑1级竖向分度位置之间的距离 Δh = H N - H N - 1 = 2 r sin 2 2 - 2 r sin 2 ( N - 1 ) α 2 .
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310383125.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top