[发明专利]用于大口径光学元件精密检测平台的空间误差计算方法有效

专利信息
申请号: 201310383473.X 申请日: 2013-08-29
公开(公告)号: CN103438800A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 郭隐彪;张东旭;杨平;杨炜;王詹帅 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 马应森;曾权
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 用于大口径光学元件精密检测平台的空间误差计算方法,涉及光学元件检测。将空间误差分解为X、Y平面内误差和该平面沿Z轴运动后由Z轴所引起的误差,综合利用这两部分误差值,通过分别对X、Y两轴联动误差、Z轴定位误差进行多项式拟合以及将Z轴实际运动轨迹分别向ZO1X和ZO1Y平面垂直投影和解多个相关直角三角形的方法计算出空间误差值。因为所应用的误差值均可通过已有设备进行测量,从而实现了大口径光学元件精密检测平台的空间误差计算。
搜索关键词: 用于 口径 光学 元件 精密 检测 平台 空间 误差 计算方法
【主权项】:
用于大口径光学元件精密检测平台的空间误差计算方法,其特征在于包括以下步骤:1)对利用球杆仪在XOY平面内不同位置多次测量得到的X、Y两轴联动误差进行多项式拟合,得到误差方程,即得到该平面内任意一点A在该平面内的定位误差值ΔAxy;2)利用球杆仪和激光干涉仪分别测量出Z、X两轴和Z、Y两轴垂直度误差值Δα和Δγ以及Z轴定位误差值,并对Z轴定位误差值进行多项式拟合,即得到Z轴任一点的定位误差值Δc;3)当XOY平面在理想情况下,由L1平面位置沿Z轴上升O1O'1距离c至L2平面位置时,由于Z轴误差影响,其实际位置为L3平面,将Z轴的实际运动轨迹O1Z'向ZO1Y面做投影,得到其轨迹投影O1O3,过O3做O1Z垂线交点为O4,应用Δα和Δγ,通过解直角三角形O1O3O4和O1O2Z',计算出Z轴实际运动轨迹与ZO1X面的夹角Δβ,继而,将Z轴的实际运动轨迹O1Z'向ZO1X面做投影,得到其轨迹投影O1O2,通过解空间直角三角形O1O2Z',计算出O1O2的值;4)对点O2向L2平面做垂线,交点为N,连接O'1N交O1O2于M,通过解直角三角形O1O2Z',计算出O2M,通过解直角三角形O1O'1M和MNO2,计算出A点在X、Z方向的误差值:A点在X方向的误差值O'1N,A点在Z方向的误差值NO2;5)以相同的方法,在ZOY面重复上述步骤3)和4),计算出A点在Y方向的误差值ΔY;6)利用上述ΔAxy和A点在X、Y、Z三个方向的误差值,即可求出A点的空间误差值AA'1。
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