[发明专利]一种解决探伤存在磁化盲区的检验方法在审
| 申请号： | 201310385666.9 | 申请日： | 2013-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN104422730A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 杨斌 | 申请（专利权）人： | 重庆长安工业(集团)有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400000 *** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种解决探伤存在磁化盲区的检验方法：若干被测零件连接，使连接后的被测零件总体长宽比不小于3。本发明提供的解决探伤存在磁化盲区的检验方法使零件在探伤时，能更有效迎合探伤机螺旋磁场的磁化作用，大大降低了磁化时的反磁场作用，达到磁化零件的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 解决 探伤 存在 磁化 盲区 检验 方法 | ||
【主权项】：
一种解决探伤存在磁化盲区的检验方法，其特征在于：若干被测零件连接，使连接后的被测零件总体长宽比不小于3。
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