[发明专利]一种制造集成有二极管的IGBT器件的方法有效
申请号: | 201310389144.6 | 申请日: | 2013-08-30 |
公开(公告)号: | CN103441074A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 吴宗宪;周祥瑞 | 申请(专利权)人: | 吴宗宪;周祥瑞;陈彦豪 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L29/739 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 美国加利福尼亚州*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种制造集成有二极管的IGBT器件的方法,包括:步骤1,选取N型掺杂硅片或外延片;步骤2,对场截止型IGBT,先在N型掺杂硅片或者外延片正面上形成N型场截止层并推结,再通过涂胶光刻选择性注入N型杂质;步骤3,若为NPT型IGBT,则直接在N型掺杂硅片或者外延片正面选择性注入N型杂质;步骤4,在N型掺杂硅片或外延片的正面采用硅硅键合方式键合另一硅片,并将N型掺杂硅片或外延片背面减薄到器件参数需求厚度;步骤5,在N型掺杂硅片或者外延片背面制作所需的IGBT器件的正面结构;步骤6,将键合的另一硅片减薄去除,再注入P型杂质并退火,使其金属化形成金属电极。本发明可实现将二极管集成在IGBT体内,工艺步骤简单,成本低且良率好。 | ||
搜索关键词: | 一种 制造 集成 二极管 igbt 器件 方法 | ||
【主权项】:
一种制造集成有二极管的IGBT器件的方法,其特征在于,包括:步骤1,选取N型掺杂硅片或者外延片;步骤2,若所需制造的IGBT器件为场截止型IGBT器件,则先在N型掺杂硅片或者外延片正面上形成N型场截止层并推结,再在N型掺杂硅片或者外延片正面通过涂胶光刻选择性注入N型杂质;步骤3,若所需的IGBT器件为NPT型IGBT器件,则直接在N型掺杂硅片或者外延片正面通过涂胶光刻选择性注入N型杂质;步骤4,在N型掺杂硅片或者外延片的正面采用硅硅键合方式键合另一硅片,并将N型掺杂硅片或者外延片背面减薄至IGBT器件特性所需厚度;步骤5,在N型掺杂硅片或者外延片背面制作所需的IGBT器件的正面结构;步骤6,将步骤4中采用硅硅键合方式键合的另一硅片减薄去除,再注入P型杂质并退火,使该硅片金属化形成金属电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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