[发明专利]一种芯片漏电流测试系统有效
| 申请号： | 201310390351.3 | 申请日： | 2013-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN103439570A | 公开（公告）日： | 2013-12-11 |
| 发明（设计）人： | 蒋思远 | 申请（专利权）人： | 深圳市度信科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种芯片漏电流测试系统，包括：测试装置和测试主机，测试主机通过通信接口与测试装置连接，测试装置通过测试接口与待测芯片连接；测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，电源模块为测试装置提供工作电压，电流采集电路检测待测芯片的引脚的漏电流，并将漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，微控制器根据预置的参考值和数字信号的比较结果判断测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地，测试主机读取测试结果并根据测试结果生成测试报告。采用本发明能提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 漏电 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片漏电流测试系统，其特征在于，包括：测试装置和测试主机，所述测试主机通过通信接口与所述测试装置连接，所述测试装置通过测试接口与待测芯片连接；所述测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，所述电源模块为所述测试装置提供工作电压，所述电流采集电路检测所述待测芯片的引脚的漏电流，并将所述漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，所述微控制器根据预置的参考值和所述数字信号的比较结果判断所述测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地，所述测试主机读取所述测试结果并根据所述测试结果生成测试报告。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市度信科技有限公司，未经深圳市度信科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310390351.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
