[发明专利]基于串联晶体管型的改进的差分架构Nor flash存储单元无效
申请号: | 201310393042.1 | 申请日: | 2013-09-03 |
公开(公告)号: | CN103456359A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 翁宇飞;李力南 | 申请(专利权)人: | 苏州宽温电子科技有限公司 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;G11C16/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于串联晶体管型的改进的差分架构Nor flash存储单元,包括一个由PMOS晶体管和浮栅晶体管组成的两管串联型Nor flash单元,浮栅晶体管的漏极与PMOS晶体管的源极相连,特别地,增加一条由另一个组成结构相同的两管串联型Nor flash单元组成的支路,形成差分对称结构,两条支路的位线作为一组差分对输入到灵敏放大器中,对比读出数据。本发明采用差分结构,减小管子尺寸,表面上管子的数目增加了一倍,整体上对管子的要求降低,存储单元面积变化不会很大;制造工艺与传统制造工艺相兼容,减小了设计难度,对低容量应用,面积减小,成本降低;采用差分输入方案,不需要设置基准电压源,扩大了可区分的电流范围,工作电压,温度范围扩大,可靠性增强。 | ||
搜索关键词: | 基于 串联 晶体管 改进 架构 nor flash 存储 单元 | ||
【主权项】:
基于串联晶体管型的改进的差分架构Nor flash存储单元,包括一个由PMOS晶体管和浮栅晶体管组成的两管串联型Nor flash单元,所述浮栅晶体管的漏极与PMOS晶体管的源极相连,其特征在于,增加一条由另一个两管串联型Nor flash单元组成的支路,形成差分对称结构,两条支路的位线作为一组差分对输入到灵敏放大器中,然后对比读出数据。
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