[发明专利]SiC衬底同质网状生长Web Growth外延方法有效

专利信息
申请号: 201310404915.4 申请日: 2013-09-06
公开(公告)号: CN103489759A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 贾仁需;辛斌;宋庆文;张艺蒙;闫宏丽 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20;C30B25/16
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 代理人: 李楠;戴燕
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种SiC衬底同质Web Growth外延方法,方法包括:选取正轴4H或6H的原始SiC衬底;将原始SiC衬底进行显影处理和干刻蚀工艺处理,处理为加工SiC衬底;利用外延炉对加工SiC衬底进行原位刻蚀;对加工SiC衬底进行同质外延处理;加工SiC衬底在刻蚀图形内角处进行悬臂生长生成SiC外延片,生长出的悬臂为无缺陷的碳硅双原子层结构;生长出的悬臂愈合形成一层碳硅双原子层薄膜覆盖刻蚀台面区域;从外延炉中取出生长好的SiC外延片。本发明SiC衬底同质Web Growth外延方法实现了在正轴碳化硅衬底最顶端的刻蚀台面上外延薄的一层完全无缺陷的悬臂,并且有效缩短外延时间并提高薄膜生长面积。
搜索关键词: sic 衬底 同质 网状 生长 web growth 外延 方法
【主权项】:
一种碳化硅SiC衬底同质网状生长Web Growth外延方法,其特征在于,所述方法包括:步骤1,选取正轴4H或6H的原始SiC衬底;步骤2,将所述原始SiC衬底进行显影处理和干刻蚀工艺处理,处理为加工SiC衬底;所述SiC衬底成为台面,刻蚀面积为所需制造器件的面积,刻蚀深度为5um到20um,所述台面具有六个主轴;步骤3,利用外延炉对所述加工SiC衬底进行原位刻蚀,清除所述加工SiC衬底的表面缺陷;步骤4,升高所述外延炉温度,对所述加工SiC衬底进行同质外延处理;步骤5,所述加工SiC衬底在刻蚀图形内角处进行悬臂生长生成SiC外延片,生长出的悬臂为无缺陷的碳硅双原子层结构;生长出的悬臂愈合形成一层碳硅双原子层薄膜覆盖刻蚀所述台面区域;悬臂生长时间为20‑‑40分钟;步骤6,从所述外延炉中取出生长好的所述SiC外延片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310404915.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top