[发明专利]一种LED芯片的无损切割方法无效

专利信息
申请号: 201310406466.7 申请日: 2013-09-09
公开(公告)号: CN103474527A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 郁彬 申请(专利权)人: 昆山奥德鲁自动化技术有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L21/266;H01L21/302
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用ICP干法刻蚀代替传统镭射切割的LED芯片无损切割方法;首先在COW的表面沉积4μm~5μm的高致密SiO2作为掩模,然后利用负胶根据COW上芯粒之间的切割道位置,曝光显影出4μm~5μm的线宽,接着利用湿法刻蚀,将无胶体保护区域的SiO2刻蚀干净,随后将去胶后的产品送至ICP进行干法刻蚀,最后将SiO2后的COW送至后段进行劈裂,从而将LED芯片分离成每一颗独立的芯粒;本工艺具有简单可行,对LED芯粒无结构损伤,既满足后段劈裂的工艺要求,又不使LED芯粒的亮度收到损伤,具有较强的实用性。
搜索关键词: 一种 led 芯片 无损 切割 方法
【主权项】:
一种LED芯片的无损切割方法,其特征在于包括以下步骤:(1)将LED芯片的前制程半成品COW研磨至75μm~85μm,同时在COW表面沉积4μm~5μm的高致密SiO2作为掩模;(2)ICP干法刻蚀:用高粘附性负胶做为光罩转移载体,根据COW正面芯粒之间的切割道位置,显影出4μm~5μm的线宽;(3)利用BOE溶液对显影后的产品进行湿法刻蚀,刻蚀时间为160s;(4)将刻蚀完的SiO2表面的胶体去除,同时利用ICP进行干法刻蚀,刻蚀时间为600s;(5)利用BOE将SiO2刻蚀干净后,再送至劈裂站,从COW的背面进行劈裂。
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