[发明专利]基于L1范数模型的VLSI标准单元全局布局方法在审
| 申请号： | 201310412320.3 | 申请日： | 2013-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN103605820A | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 朱文兴;范更华;陈建利 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及本发明涉及一种基于L1范数模型的超大规模集成电路(VLSI)标准单元全局布局方法，属于VLSI物理设计自动化技术领域，该方法先把电路表示为超图，将采用半周长线长计算且密度约束为非光滑的VLSI标准单元全局布局问题建模为L1范数最小化问题，然后在聚类阶段采用适用于L1范数模型的修正的最优选择聚类算法对单元进行聚类，接着在析散阶段用非线性规划全局布局方法对聚类进行析散。该方法布局合理，高效实用，布局效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 l1 范数 模型 vlsi 标准 单元 全局 布局 方法 | ||
【主权项】：
一种基于L1范数模型的VLSI标准单元全局布局方法，其特征在于，该方法先把电路表示为超图，将采用半周长线长计算且密度约束为非光滑的VLSI标准单元全局布局问题建模为L1范数最小化问题，然后在聚类阶段采用适用于L1范数模型的修正的最优选择聚类算法对单元进行聚类，接着在析散阶段用非线性规划全局布局方法对聚类进行析散。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学，未经福州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310412320.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种柔性薄膜触觉传感器件及其制作方法
- 下一篇：驾驶员辅助系统
