[发明专利]一种激光光束分析仪探测面定位方法及系统有效
| 申请号： | 201310414146.6 | 申请日： | 2013-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN103487237B | 公开（公告）日： | 2016-05-18 |
| 发明（设计）人： | 王艳萍;马冲;王茜蒨 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100013 北京市北三环东*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种激光光束分析仪探测面定位方法及系统，该方法包括：激光器发出的激光光束垂直入射到激光光束分析仪探测面上，测量并记录所述激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；在所述激光器发出的激光光束的光路中放置一个楔镜，调节楔镜使该光束垂直入射到楔镜的垂直面，并使激光光束透过所述楔镜折射后入射到所述激光光束分析仪探测面上；测量并记录通过所述楔镜折射后的激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；计算出激光光束分析仪探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离。通过本发明提供的方法及系统，通过计算出探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离，能够对激光光束分析仪探测面进行精确定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 光束 分析 探测 定位 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种激光光束分析仪探测面定位方法，其特征在于，所述方法包括：激光器发出的激光光束垂直入射到激光光束分析仪探测面上，测量并记录所述激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；在所述激光器发出的激光光束的光路中放置一个楔镜，调节楔镜使该光束垂直入射到楔镜的垂直面，并使激光光束通过所述楔镜折射后入射到所述激光光束分析仪探测面上；测量并记录通过所述楔镜折射后的激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；根据激光光束不经过楔镜折射直接垂直入射到所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置和激光光束经过楔镜折射后入射到所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置，计算出激光光束分析仪探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离。
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