[发明专利]端子压接状态的检查方法及其检查装置有效
| 申请号： | 201310418674.9 | 申请日： | 2013-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN103682936A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 山口裕司 | 申请（专利权）人： | 矢崎总业株式会社 |
| 主分类号： | H01R43/00 | 分类号： | H01R43/00;H01R4/18;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 | 代理人： | 陈波;朱弋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种端子压接状态的检查方法及检查装置，其包括基于合格品样品的端子压力波形和不合格品样品的端子压力波形计算公差，并将上述公差设定为检查条件的检查条件设定步骤；取得上述合格品样品的端子压力波形的平均值作为参考波形，计算上述参考波形的端子压力值的参考波形取得步骤；取得端子压接时的端子压力波形作为检查对象的检查波形，计算上述检查波形的端子压力值的检查波形取得步骤；和基于上述参考波形的上述端子压力值和上述检查波形的上述端子压力值，判定上述端子压接是否合格的合格与否判定步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 端子 状态 检查 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种端子压接状态的检查方法，其特征在于，包括：基于合格品样品的端子压力波形和不合格品样品的端子压力波形计算公差，将所述公差设定为检查条件的检查条件设定步骤；取得所述合格品样品的端子压力波形的平均值作为参考波形，计算所述参考波形的端子压力值的参考波形取得步骤；取得端子压接时的端子压力波形作为检查对象的检查波形，计算所述检查波形的端子压力值的检查波形取得步骤；和基于所述参考波形取得步骤中所取得的所述参考波形的所述端子压力值、以及所述检查波形取得步骤中所取得的所述检查波形的所述端子压力值，判定所述端子压接是否合格的合格与否判定步骤。
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