[发明专利]用于沉浸式光刻光学系统的清洗方法有效

专利信息
申请号: 201310419409.2 申请日: 2004-04-02
公开(公告)号: CN103558736A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 安德鲁·J·黑兹尔顿;川井秀实;道格拉斯·C·沃特森;托马斯·W·诺万克 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种用于沉浸式光刻光学系统的清洗方法,涉及的沉浸式光刻装置具有用于保持刻线板的刻线板台,用于保持工件的工件台,和位于工件对面、由照射源和光学元件组成的光学系统,用于通过照射源的辐射投影刻线板的图像。在光学元件和工件之间限定一个间隙,并且一个流体供应器件用于向该间隙内提供沉浸流体,从而在沉浸式光刻处理中使供应的沉浸流体与光学元件和工件均接触。具有一个清洗器件,其用于在清洗处理期间从光学元件除去吸附的液体。该清洗器件可以使用与被吸附液体具有亲和力的清洗液体、加热、真空条件、超声波振荡或者空化泡来除去吸附的液体。清洗液体可以通过相同的具有切换器件例如阀的流体施加器件加以提供。
搜索关键词: 用于 沉浸 光刻 光学系统 清洗 方法
【主权项】:
一种用于沉浸式光刻装置的清洗方法,其中在沉浸式光刻处理期间,用于光刻的工件位于台上,具有光学元件的投影光学系统在所述工件的上方并与之相对,在所述光学元件与所述工件之间提供间隙,所述方法包括如下步骤:在清洗处理期间将清洗器件置于所述台上;以及在所述清洗处理期间在所述光学元件与于所述台上的所述清洗器件之间供应液体,所述光学元件在所述清洗处理期间与所供应的液体接触。
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