[发明专利]一种折线对比分析相似度的方法

摘要

本发明涉及一种折线对比分析相似程的方法，通过量化指标指出偏离、耦合程度，多组折线的相似程度可以通过上述指标比较。本发明的核心思想为通过对折线X轴进行分段汇总得到的汇总折线，进行直接偏离、方差偏离的累计，并通过与直接偏离、方差偏离的基准值的比较，获得百分比制的量化指标，从而为折线之间的相似程度提供量化指标说明。

主权项

一种折线对比分析相似度的方法，它包括初始A坐标存储模块、初始B坐标存储模块、合并坐标模块、计算模块，其特征在于，它包括如下步骤：（1）在初始A坐标存储模块储存有折线LineA坐标，在初始B坐标存储模块储存有折线LineB的坐标，AXmin、BXmin分别为LineA的X轴区间与LineB的X轴区间的最小值，AXmax、BXma x分别为LineA的X轴区间与LineB的X轴区间的最大值，将LineA的X轴区间与LineB的X轴区间均输入合并坐标模块，获得X轴合并区间[Xmin,Xmax]，其中Xmin为AXmin, BXmin中的最小值，其中Xmax为AXmax,BXmax中的最大值；（2）将LineA在合并区间上没有采样点的时间段上，为LineA生成新的采样点，将LineB在合并区间上没有采样点的时间段上，为LineB生成新的采样点；（3）在计算模块内设有两个区位用于保存偏离度，分别为直接偏离累计值区位AmpAcc、方差偏离累计值区位SqrAcc、并将AmpAcc和SqrAcc初始化为0，计算模块内还设有两个区位用于保存偏离基数，分别为直接偏离累计值基准区位AmpAccBase、方差偏离累计值基准区位SqrAccBase，将AmpAccBase和SqrAccBase也初始化为0；（4）对合并区间[Xmin,Xmax]设有分段长度SegLen，SegLen的长度为1个X轴时间段的倍数, 将LineA，LineB的所有采样点，按照SegLen进行汇总分段，若N为自然数，则第N个分段SegN对应X轴合并区间的X轴时间段为[N, N+SegLen]区间，SegN的Y轴取值为相应时间段的采样点的Y轴取值的累加和，最终得到两条新的汇总折线LineSA，LineSB；（5）按照分段，从第一个分段Seg1到最后一个分段，进行遍历：1）对于当前分段SegC，将LineSA与LineSB在当前分段的Y轴取值进行相减然后取绝对值获得直接偏离AmpC，对AmpC进行乘方获得方差偏离AmpS；2）将AmpC加到AmpAcc上，实现AmpAcc对于所有分段的直接偏离的累计；3）将AmpS加到SqrAcc上，实现SqrAcc对于所有分段的方差偏离的累计；4）将LineSA的当前取值的绝对值累加到AmpAccBase上，将LineSA的当前取值的绝对值的乘方累加到SqrAccBase上，获得两个偏离指标基准；遍历结束后得到的AmpAcc代表了所有分段的直接偏离量的累计，而SqrAcc代表了所有分段的偏离乘方的累计；（6）获得两个偏离度指标：直接偏离百分比AmpPer：AmpPer = AmpAcc / AmpAccBase * 100%；方差偏离百分比SqrPer：SqrPer = SqrAcc / SqrAccBase * 100%；（7）获得两个耦合度指标：直接耦合百分比AmpFitPer：AmpFitPer = 100% ‑ AmpPer；方差耦合百分比SqrFitPer：SqrFitPer = 100% ‑ SqrPer。