[发明专利]一种梨树叶片上梨锈病斑的识别方法有效
| 申请号： | 201310422474.0 | 申请日： | 2013-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN103487380A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 赵芸;徐兴;樊靖烨 | 申请（专利权）人： | 浙江科技学院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310023 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种梨树叶片上梨锈病斑的识别方法，包括以下步骤：（1）取梨树叶片，采集梨树叶片在550nm、565nm、575nm、623nm和655nm处的单波段图像；（2）对梨树叶片在550nm、575nm、655nm处的单波段图像进行一阶导数变换，并作为三个特征值输入经训练的高斯过程分类模型，提取得到病斑图像；（3）对梨树叶片在565nm、623nm处的单波段图像作差分运算并对结果图像二值化，提取得到锈点图像；（4）将病斑图像和锈点图像重叠合并，如果单个病斑和单个锈点合并形成新的连通区域，则该病斑为梨锈病斑。本发明不但操作简单，而且准确率高，有利于及时有效地对梨锈病进行预防及控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 梨树 叶片 锈病 识别 方法 | ||
【主权项】：
一种梨树叶片上梨锈病斑的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）取梨树叶片，采集梨树叶片在550nm、565nm、575nm、623nm和655nm处的单波段图像；（2）对梨树叶片在550nm、575nm、655nm处的单波段图像进行一阶导数变换，并作为三个特征值输入经训练的高斯过程分类模型，提取得到病斑图像；（3）对梨树叶片在565nm、623nm处的单波段图像作差分运算并对结果图像二值化，提取得到锈点图像；（4）将病斑图像和锈点图像重叠合并，如果单个病斑和单个锈点合并形成新的连通区域，则该病斑为梨锈病斑。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江科技学院，未经浙江科技学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310422474.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种夜行安全装置
- 下一篇：一种伺服转台用三脚架
