[发明专利]一种生长具有锥形特征的镍薄膜的真空镀膜方法无效

专利信息
申请号: 201310429347.3 申请日: 2013-09-17
公开(公告)号: CN104451576A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 袁萍 申请(专利权)人: 无锡慧明电子科技有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214000 江苏省无锡市锡山区锡山*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种生长具有锥形特征的镍薄膜的真空镀膜方法,该方法利用磁控溅射法,在没有施加直流偏置电压的条件下,通过控制溅射氩气气压、基片温度、金属靶与相应阳极罩之间的极间电压、极间放电电流,在二氧化硅玻璃上基片制备出具有金字塔形貌的镍薄膜,此薄膜具有(100)或(110)的择优取向;该方法包括:选择纯金属镍靶作为溅射靶材;选择二氧化硅玻璃为生长基片;在派射室内采用专门的直流磁控溅射工艺,在二氧化硅玻璃基片上磁控溅射镍薄膜;本发明可以适用于不同导电性能基片,并简化了利用磁控溅射法生长出金字塔形貌镍薄膜的方法。
搜索关键词: 一种 生长 具有 锥形 特征 薄膜 真空镀膜 方法
【主权项】:
一种生长具有锥形特征的镍薄膜的真空镀膜方法,其特征在于:利用磁控溅射法,在没有施加直流偏置电压的条件下,通过控制溅射氩气气压、基片温度、金属靶与相应阳极罩之间的极间电压、极间放电电流,在二氧化硅玻璃基片上制备出具有金字塔形貌的镍薄膜,此薄膜具有(110)或(110)的择优取向;该方法的具体步骤如下:步骤1:用纯金属镍靶作为溅射靶材;步骤2:用二氧化硅玻璃为生长基片;步骤3:在溅射室内,采用直流磁控溅射工艺,在二氧化硅玻璃基片上磁控溅射沉积镍薄膜;上述直流磁控溅射工艺是:先将溅射室内的本底真空度抽至1×10‑3‑5×10‑5Pa,再将溅射室内充入纯度高于99%的氩气,使溅射氩气气压处于5×10‑1‑12Pa的范围内,并将基片温度调至20~200℃;之后在金属镍靶上施加励磁电流为2~3A的电磁场;在金属靶与相应阳极罩之间施加300~800V的极间电压、1.5×10‑1‑5×10‑1A的极间放电电流;调节氩气气压、基片温度,并综合调节极间电压、极间放电电流以控制溅射功率,建立并维持两极之间稳定的辉光放电。
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