[发明专利]检查压缩质量的电阻测量装置及使用该装置的测量方法有效
| 申请号： | 201310430509.5 | 申请日： | 2013-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN104034964B | 公开（公告）日： | 2019-02-05 |
| 发明（设计）人： | 高润德;李容熙 | 申请（专利权）人： | 三星显示有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 余朦;王艳春 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 用于检查压缩质量的电阻测量装置包括通过与显示装置的压缩电阻测量标记接触以测量电阻的探测器，用于支承该探测器的探测器支承部，以及与探测器支承部耦合并且控制探测器位置的力矩电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 压缩 质量 电阻 测量 装置 使用 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查压缩质量的电阻测量装置，包括：探测器，包括多个探针，所述探针通过与显示装置的压缩电阻测量标记接触以测量所述显示装置的压缩部分的电阻；探测器支承部，支承所述探测器；位移传感器，与所述探测器支承部耦合，并且检测所述探测器的位移以及所述探针的平滑度；以及力矩电机，与所述探测器支承部连接，并且控制所述探测器的位置。
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