[发明专利]电流调整二极管的电参数测试装置和测试方法在审
| 申请号： | 201310431949.2 | 申请日： | 2013-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN104459502A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 彭文忠;田文燕;杜先兵;周嵘;赵智平 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团永光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 云南派特律师事务所 53110 | 代理人： | 张怡 |
| 地址： | 550000 贵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明涉及电流调整二极管测试技术领域，具体涉及一种电流调整二极管的电参数测试装置和测试方法；采用的技术方案：包括电阻采集装置和待测装置，所述电阻采集装置和待测装置电连接，所述电阻采集装置包括数个电阻，所述待测装置包括数个二极管夹具，所述电阻采集装置上设置有第一接线柱，所述待测装置上设置有第二接线柱，所述第一接线柱与数个电阻电连接，所述第二接线柱与数个二极管夹具电连接；本发明的有益效果在于：可准确地对电流调整二极管的温度系数和动态阻抗进行准确的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 电流 调整 二极管 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
电流调整二极管的电参数测试装置，其特征在于：包括电阻采集装置和待测装置，所述电阻采集装置和待测装置电连接，所述电阻采集装置包括数个电阻，所述待测装置包括数个二极管夹具，所述电阻采集装置上设置有第一接线柱，所述待测装置上设置有第二接线柱，所述第一接线柱与数个电阻电连接，所述第二接线柱与数个二极管夹具电连接。
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