[发明专利]一种基于标志点相位梯度提取的圆迹SAR轨迹重建方法在审

专利信息
申请号: 201310432263.5 申请日: 2013-09-22
公开(公告)号: CN103675813A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 林赟;郭振宇;谭维贤;王彦平;洪文;吴一戎 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/292
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种基于标志点相位梯度提取的圆迹SAR轨迹重建方法,其包括:在场景中选取多个标志点,并获取圆迹SAR载机和各个标志点的大地水平面坐标系坐标;根据圆迹SAR载机和各个标志点的大地水平面坐标系坐标,从圆迹SAR接收到的目标回波信号中提取各个标志点的相位梯度,并根据所述相位梯度计算各个标志点到真实轨迹的实斜距变化量;利用圆迹SAR载机和标志点的大地水平面坐标系坐标,以及各个标志点的斜距变化量,重建圆迹SAR轨迹。上述方法解决了现有圆迹SAR依赖于高精度导航测量的问题,且不仅能用于圆迹合成孔径雷达的高精度轨迹重建,也适用于任意轨迹SAR的高精度轨迹重建。
搜索关键词: 一种 基于 标志 相位 梯度 提取 sar 轨迹 重建 方法
【主权项】:
一种基于标志点相位梯度提取的圆迹SAR轨迹重建方法,其包括:步骤S1、在场景中选取多个标志点,并获取圆迹SAR载机和各个标志点的大地水平面坐标系坐标;步骤S2、根据圆迹SAR载机和各个标志点的大地水平面坐标系坐标,从圆迹SAR接收到的目标回波信号中提取各个标志点的相位梯度,并根据所述相位梯度计算各个标志点到真实轨迹的斜距变化量;步骤S3、利用圆迹SAR载机和标志点的大地水平面坐标系坐标,以及各个标志点的斜距变化量,重建圆迹SAR轨迹。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310432263.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top