[发明专利]基于线对的全场清晰度测试方法和系统有效

专利信息
申请号: 201310435062.0 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN103581660B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 吴斐;M·N·加玛迪亚;沈诗哲 申请(专利权)人: 苹果公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 鲍进
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开涉及基于线对的全场清晰度测试方法和系统。使用包括两组或更多组平行线对的叠加的测试图表,可以测试用于大量制造消费者电子设备的光学部件的光学特性,其中所有各组平行线对都以不同的倾角被定向。各组线对可被定向成使得它们彼此垂直。测试系统能够快速且客观地评估例如横贯成像系统的全图像视场的光学部件在不同方向上的清晰度,该成像系统使用用于透镜成像的光学部件来捕获图表的数字图像。其他实施例也被描述且要求保护。
搜索关键词: 基于 全场 清晰度 测试 方法 系统
【主权项】:
一种用于测试数字照相机设备的测试系统,包括:测试图表,用于评估被测照相机设备DUT的光学特性,所述测试图表包括两组或更多组平行线对的叠加,其中所有各组平行线对都以不同的倾角被定向,其中所有线对从包括所述DUT的成像系统的视场的一边向另一边不间断地延伸,所述成像系统捕获所述测试图表的图像,并且其中所述叠加包括具有相同线对空间频率的第一组平行倾斜线对和第二组平行倾斜线对,其中所述第一组平行倾斜线对中的线对相对于所述第二组平行倾斜线对中的线对是倾斜的,其中所述测试图表的尺寸和所述线对空间频率被选择成在不同方向上以所选的线对空间频率、横贯所捕获的图像帧的整个空间场范围或者横贯所述成像系统的图像能力的整个区域,测试所述成像系统的全图像场;以及测试计算机,用于通过对所述DUT捕获的测试图表的图像进行数字处理,测量所述DUT的全场光学性能。
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