[发明专利]一种高分辨率遥感图像特征匹配方法有效
申请号: | 201310438646.3 | 申请日: | 2013-09-24 |
公开(公告)号: | CN103456022A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 霍春雷;霍雷刚;潘春洪;周志鑫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种高分辨率遥感图像特征匹配方法,该方法包括:在参考图像上提取显著目标区域;提取参考图像和输入图像的SIFT特征点;为参考图像的每一SIFT特征点在输入图像的SIFT特征点集合中寻找多个候选匹配点;为参考图像显著目标区域内的SIFT特征点集合在对应的所述候选匹配点组成的候选匹配点集合中搜索最优匹配点;对每个显著目标区域得到其最优匹配点集合,每个显著目标区域对应的SIFT特征最优匹配点集合的并集作为最后的特征匹配集合。本发明基于目标显著区域内的SIFT特征进行匹配,过滤了大量冗余信息,提高了匹配性能;减少了外点,提高了对视角变化、图像形变的鲁棒性。本发明可以广泛应用于图像配准、三维重建等诸多应用系统中。 | ||
搜索关键词: | 一种 高分辨率 遥感 图像 特征 匹配 方法 | ||
【主权项】:
一种高分辨率遥感图像特征匹配方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤S1,在参考图像上提取显著目标区域;步骤S2,提取所述参考图像和输入图像的SIFT特征点;步骤S3,根据最近邻匹配原则为所述参考图像的每一个SIFT特征点在输入图像的SIFT特征点集合中寻找多个候选匹配点;步骤S4,为所述参考图像显著目标区域内的SIFT特征点集合在对应的所述候选匹配点组成的候选匹配点集合中搜索最优匹配点;步骤S5:对每个显著目标区域按照所述步骤S4得到其最优匹配点集合,每个显著目标区域对应的SIFT特征最优匹配点集合的并集作为最后的特征匹配集合。
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