[发明专利]一种测试数据压缩方法、数据解压缩装置及解压缩方法

摘要

本发明公开了一种确定性自测试的测试数据压缩方法、数据解压缩装置和数据解压缩方法。所述压缩方法包括：聚类压缩，以及聚类压缩与输入精简压缩和移位压缩的结合。所述数据解压缩装置包括：比特计数器、向量计数器、移位计数器、聚类移位寄存器、地址计数器、比较器、异或门、输入压缩寄存器、反相器。本发明提出的上述方案由于采用了聚类移位输入精简压缩方法，对难测故障的测试数据先进行输入压缩，再将输入压缩后的测试数据进行聚类压缩，最后对聚类压缩后的测试数据进行移位压缩，使得最终需要存储在内建自测试电路ROM中的存储单元减少，节省了内建自测试电路的硬件开销。

主权项

一种确定性自测试的测试数据压缩方法，其包括：步骤1：利用伪随机产生的数据对集成电路进行测试，确定难测故障并记录；步骤2：获得所记录的难测故障的测试数据，并进行输入压缩，生成输入压缩后的测试数据集合；步骤3：将上述输入压缩后的测试数据集合进行聚类压缩，对测试数据集合中的测试数据进行类的划分，使得每个类内的测试数据两两之间最多只相差一个比特；步骤4：对上述聚类压缩后的测试数据集合进行移位压缩，最终生成压缩后的测试数据集合。