[发明专利]一种多电极测试方法及其装置有效
| 申请号： | 201310440410.3 | 申请日： | 2013-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN103513152A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 夏斌;李亚杰;王松 | 申请（专利权）人： | 杭州诺尔康神经电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李弘;李翔 |
| 地址： | 310011 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多电极测试装置，包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源；所述PCB板上设有多条相互平行的测量线；所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接，所述测试器与电源连接；每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电极 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种多电极测试装置，其特征在于，包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源；所述PCB板上设有多条相互平行的测量线，这些测量线的间距不超过0.3mm；所述每个测量线连接并且只连接所述多选一电子开关的一个通道；所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接，所述测试器与电源连接；测量状态下，每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。
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