[发明专利]一种适用于嵌入式设备的故障注入测试系统及测试方法

摘要

本发明公开了一种适用于嵌入式设备的故障注入测试系统及测试方法，不改变待测嵌入式系统的硬件状态，利用系统自带的总线接口和内部可编程逻辑器件的灵活性实现故障注入，不会对待测系统造成物理损伤，可靠性高；故障注入测试不受距离的限制，在总线可靠传输距离内都可以进行故障注入测试，使用灵活方便；该故障注入测试系统采用软件硬件相结合的方法对待测目标系统硬件和软件进行测试，可实时、有效地完成故障注入，通过故障回收系统运行信息，可对嵌入式系统的容错性能给出客观的评价，进而为嵌入式系统设计人员改进硬件设计和软件的纠错、容错能力提供重要依据，最终实现高可靠性和高安全性的嵌入式系统运行环境。

主权项

一种适用于嵌入式设备的故障注入测试系统,其特征在于：包括故障注入及回收设备和待测嵌入式设备，故障注入及回收设备与待测嵌入式设备之间通过总线相连接；故障注入及回收设备：采用工业控制计算机完成故障注入模式存储、故障注入和故障回收；待测嵌入式设备：包括通过内部总线相连接的FPGA、CPU、SDRAM和总线控制器，FPGA运行硬件检测程序用于接收硬件故障注入模式和改变待测硬件管脚状态，CPU通过总线控制器接收故障注入及回收设备注入的故障模式，CPU通过运行嵌入式软件完成硬件故障注入模式转发、对待测软件模块进行软件故障注入、硬件故障结果和软件故障结果回收及发送；SDRAM用于存储待测嵌入式软件。