[发明专利]测试装置、CPU芯片及缓存的测试方法

摘要

本发明实施方式公开了一种测试装置、CPU芯片及缓存的测试方法，测试装置包括：随机地址产生器，用于将伪随机序列产生的随机数作为随机地址，随机地址为缓存的地址，其中缓存的地址与主存储器的地址具有映射关系；随机数据产生器，用于产生与随机地址一一对应的第一随机数据；测试单元，用于根据第一随机数据对随机地址进行逻辑功能测试。通过以上公开内容，本发明所揭示的技术方案无需占用缓存的I/O端口，可在降低成本的前提下对缓存进行逻辑功能测试。

主权项

一种测试装置，其特征在于，所述测试装置用于测试缓存，包括：随机地址产生器，用于将伪随机序列产生的随机数作为随机地址，所述随机地址为所述缓存的地址，其中所述缓存的地址与主存储器的地址具有映射关系；第一随机数据产生器，用于产生与所述随机地址一一对应的第一随机数据；测试单元，用于根据所述第一随机数据对所述随机地址进行逻辑功能测试，所述逻辑功能测试包括读测试，所述测试单元包括控制器和比较器，其中：所述控制器，用于将所述第一随机数据写入到所述随机地址中，读取所述随机地址中的数据，并判断所述随机地址是否有效，及是否被修改；所述比较器，用于在所述控制器判断到所述随机地址有效且没有被修改时，将所述随机地址中的数据与所述第一随机数据进行比较，在比较结果一致时，所述控制器输出针对所述随机地址的读测试合格的结果，在所述比较结果不一致时，所述控制器输出针对所述随机地址的读测试不合格的结果。