[发明专利]一种基于表面等离子体谐振的局部电化学成像测试系统有效
| 申请号： | 201310451022.5 | 申请日： | 2013-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN103675053A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 崔大付;张璐璐;陈兴;孙建海;李辉;蔡浩原 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01N27/27 | 分类号： | G01N27/27;G01N21/55 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于表面等离于体谐振的局部电化学成像测试系统，其包括光学系统、机械系统、数据采集系统、流通系统、电化学系统和计算机控制系统;光学系统包括SPR芯片、光学棱镜和光源，光源发出入射激光并照射至光学棱镜;流通系统包括微流控测试池;待测物通过所述微流控测试池流经SPR芯片上表面引起所述表面等离于谐振吸收峰的改变;电化学系统问待测物提供电刺激使得待测物产生电化学反应，并采集相应的电化学信号;所述数据采集系统采集所述表面等离于谐振吸收峰的改变;所述机械系统用于调整光源发出的入射激光的角度;所述计算机控制系统根据所述电化学信号和所述表面等离子谐振吸收峰的变化获得待测物的相应信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 表面 等离子体 谐振 局部 电化学 成像 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种基于表面等离子体谐振的局部电化学成像测试系统，其包括光学系统、机械系统、数据采集系统、流通系统、电化学系统和计算机系统;其中，光学系统包括表面等离子体谐振SPR芯片、光学棱镜和光源，光源发出入射激光并照射至光学棱镜;流通系统包括微流控测试池;所述SPR芯片位于光学棱镜的水平上平面上，所述微流控测试池位于所述SPR芯片上表面，具有一定角度的所述入射激光经光学棱镜后照射至SPR芯片上表面发生全反射，并产生表面等离子谐振吸收峰，待测物通过所述微流控测试池流经SPR芯片上表面后，与SPR芯片上固定的反应物相互作用，引起所述表面等离子谐振吸收峰的改变;电化学系统用于向待测物提供电刺激使得待测物产生电化学反应，并采集相应的电化学信号;所述数据采集系统采集所述表面等离子谐振吸收峰的改变，获得表面等离子谐振光学图像信息;所述机械系统用于调整光源发出的入射激光的角度;所述计算机系统将表面等离子谐振光学图像信息转换为带有空间分辨率的局部电化学信息，根据所述局部电化学信号和所述表面等离子谐振吸收峰的变化获得待测物的相应信息。
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