[发明专利]一种低应力硅化合物超厚膜材料、制备方法及用途有效
申请号: | 201310451286.0 | 申请日: | 2013-09-27 |
公开(公告)号: | CN103484833A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 宋志伟;褚卫国 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | C23C16/34 | 分类号: | C23C16/34;C23C16/40;C23C16/50 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种低应力硅化合物超厚膜材料、制备方法及用途。所述超厚膜材料的厚度为28μm以上,膜应力低于100MPa。将处理好的衬底放入高密度等离子体增强化学气相沉积设备腔体中,抽真空后加热衬底,供给气源并增加功率,在一定气压下使腔体内混合气体产生等离子体,沉积到衬底表面。所述超厚膜材料具有良好的绝缘性、稳定性和机械特性,可以作为绝缘层、保护膜或光学膜,广泛应用于半导体、微波、光电子以及光学器件等领域,有助于微纳器件研究领域的商业化,有着明显的应用前景和潜在的经济效益。 | ||
搜索关键词: | 一种 应力 化合物 超厚膜 材料 制备 方法 用途 | ||
【主权项】:
一种低应力硅化合物超厚膜材料,其特征在于,所述超厚膜材料的厚度为28μm以上,薄膜应力低于100MPa。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的