[发明专利]一种低应力硅化合物超厚膜材料、制备方法及用途有效

专利信息
申请号: 201310451286.0 申请日: 2013-09-27
公开(公告)号: CN103484833A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 宋志伟;褚卫国 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/40;C23C16/50
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 巩克栋
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种低应力硅化合物超厚膜材料、制备方法及用途。所述超厚膜材料的厚度为28μm以上,膜应力低于100MPa。将处理好的衬底放入高密度等离子体增强化学气相沉积设备腔体中,抽真空后加热衬底,供给气源并增加功率,在一定气压下使腔体内混合气体产生等离子体,沉积到衬底表面。所述超厚膜材料具有良好的绝缘性、稳定性和机械特性,可以作为绝缘层、保护膜或光学膜,广泛应用于半导体、微波、光电子以及光学器件等领域,有助于微纳器件研究领域的商业化,有着明显的应用前景和潜在的经济效益。
搜索关键词: 一种 应力 化合物 超厚膜 材料 制备 方法 用途
【主权项】:
一种低应力硅化合物超厚膜材料,其特征在于,所述超厚膜材料的厚度为28μm以上,薄膜应力低于100MPa。
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