[发明专利]光酸发生剂以及包含该光酸发生剂的抗蚀剂组合物有效

专利信息
申请号: 201310454693.7 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN103728835A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 朱炫相;韩俊熙;裵昌完;金真湖;安浩益 申请(专利权)人: 锦湖石油化学株式会社
主分类号: G03F7/004 分类号: G03F7/004;G03F7/039;C07D319/06;C07D339/08;C07C381/12;C07D333/46
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 姜虎;陈英俊
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种光酸发生剂以及包含该光酸发生剂的抗蚀剂组合物,其在抗蚀膜的形成过程中调节从曝光区域到非曝光区域的酸的扩散,从而能够减少非曝光表面和曝光表面上的线边缘粗糙度。[化学式1]所述化学式1中,各取代基如在说明书中所定义。
搜索关键词: 发生 以及 包含 抗蚀剂 组合
【主权项】:
1.下述化学式1的光酸发生剂:[化学式1]所述化学式1中,所述Q1和Q1’是各自独立为卤素基;所述Q2和Q2’是各自独立为氢原子或卤素基;所述R是氢原子或碳原子数为1-4的烷基;所述V1和V2是各自独立为氧原子(O)或硫原子(S);所述W1和W2各自独立地选自碳原子数为1-10的烷基、碳原子数为3-30的环烷基、碳原子数为3-30的芳基、碳原子数为1-10的烷氧基以及它们的组合所组成的组中;所述X选自亚烷基、亚烯基、NR'、S、O、CO以及它们的组合所组成的组中,所述R'是氢原子或碳原子数为1-4个的烷基;所述a是1至4的整数,b是0至5的整数,c是1至3的整数,d是1至3的整数;所述A+是有机抗衡离子。
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