[发明专利]一种高效率的AlGaInP发光二极管外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310455429.5 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN103500781A 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 马淑芳;田海军;吴小强;关永莉;梁建;许并社 申请(专利权)人: 山西飞虹微纳米光电科技有限公司;太原理工大学
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/04;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 代理人: 朱源
地址: 041600 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明涉及AlGaInP发光二极管,具体是一种高效率的AlGaInP发光二极管外延片及其制备方法。本发明解决了现有AlGaInP发光二极管的外延片工艺复杂、成本高、以及出光效率较低的问题。一种高效率的AlGaInP发光二极管外延片,包括n-GaAs衬底、n-GaAs缓冲层、n-AlxGa1-xAs渐变层、复合式DBR、n-InAlP限制层、有源层、p-InAlP限制层、P型超晶格层、p-GaP窗口层;其中,n-GaAs缓冲层生长于n-GaAs衬底的上表面;n-AlxGa1-xAs渐变层生长于n-GaAs缓冲层的上表面。本发明适用于AlGaInP发光二极管的制造。
搜索关键词: 一种 高效率 algainp 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
一种高效率的AlGaInP发光二极管外延片,其特征在于:包括n‑GaAs衬底、n‑GaAs缓冲层、n‑AlxGa1‑xAs渐变层、复合式DBR、n‑InAlP限制层、有源层、p‑InAlP限制层、P型超晶格层、p‑GaP窗口层;其中,n‑GaAs缓冲层生长于n‑GaAs衬底的上表面;n‑AlxGa1‑xAs渐变层生长于n‑GaAs缓冲层的上表面;复合式DBR生长于n‑AlxGa1‑xAs渐变层的上表面;n‑InAlP限制层生长于复合式DBR的上表面;有源层生长于n‑InAlP限制层的上表面;p‑InAlP限制层生长于有源层的上表面;P型超晶格层生长于p‑InAlP限制层的上表面;p‑GaP窗口层生长于P型超晶格层的上表面。
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