[发明专利]基于沟槽方式的通道分压场效应管及生产方法有效
申请号: | 201310460327.2 | 申请日: | 2013-09-30 |
公开(公告)号: | CN103531481A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 关仕汉;李勇昌;彭顺刚;邹锋;王常毅 | 申请(专利权)人: | 桂林斯壮微电子有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 陈跃琳 |
地址: | 541004 广西壮族自*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开一种基于沟槽方式的通道分压场效应管及生产方法,其利用沟槽方式,再通过扩散制作一n型通道连接沟道与漏极,n型通道所形成的十字型结构或T字形也是3D结构,PN之间形成空乏区(耗尽层)从单一的垂直方向改变为垂直与水平两个方向,这样可以大幅提高这个区域的耐压,从而可以增加N通道的掺杂浓度,进而又起到降低导通电阻的作用;同时,上述结构中栅极底部与漏极之间由P外延阻隔,从而使栅极底部与漏极之间的电容基本为零;并且通道与沟道的接触部分较小,可以大幅消除栅极和Drain之间的电容,可以大幅减少Gate开关时的充、放电时间(Qgd可以大幅降低),从而提高了MOS管的开关速度。 | ||
搜索关键词: | 基于 沟槽 方式 通道 压场 效应 生产 方法 | ||
【主权项】:
基于沟槽方式的通道分压场效应管的生产方法,其特征是包括如下步骤:(1)在N+衬底(4)上生长P型外延层(5);(2)在P型外延层(5)上光蚀刻出多条条状沟槽,且各条状沟槽均一直蚀刻到N+衬底(4)界面;(3)在条状沟槽的下部填充n+型单晶硅;(4)在条状沟槽的上部填充P型单晶硅,并清洁表面;(5)在剩余P型外延层(5)上再次光蚀刻出多条条状槽;每条条状槽均处于2条条状沟槽之间;(6)在步骤(5)所得晶体的表面生长氧化层(9),该氧化层(9)位于条状槽的底部和侧壁、P型外延层(5)的上表面、以及P型单晶硅的上表面;(7)在覆盖有氧化层(9)的条状槽中沉积良导体(8),并在功能区外连接到一起形成栅极(2);(8)从步骤(7)所得晶体的表面向下扩散推结,使得步骤(3)填充的n+型单晶硅形成T形或十字形的n型通道(6);接着在该n型通道(6)的横向通道上开设接触孔,并使得体区P(7)与P型外延层(5)在功能区外围相连通;(9)从步骤(7)所得晶体的表面向下扩散推结形成源区N+(10);(10)在步骤(9)所得晶体的表面沉积硼磷硅玻璃(11)保护栅极(2);(11)在硼磷硅玻璃(11)上光刻出多个接触槽,且每个接触槽的位置与1条状沟槽相对,接触槽位于条状沟槽的正上方;(12)在每个接触槽的底部填充金属形成金属塞(12);(13)对步骤(12)所得晶体进行蒸铝操作,以在该晶体的上表面形成源极(3);(14)减薄步骤(13)所得晶体的N+衬底(4),并在减薄的N+衬底(4)下表面背金形成功率场效应管的漏极(1)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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