[发明专利]基于沟槽方式的通道分压场效应管及生产方法有效

专利信息
申请号: 201310460327.2 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN103531481A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 关仕汉;李勇昌;彭顺刚;邹锋;王常毅 申请(专利权)人: 桂林斯壮微电子有限责任公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 代理人: 陈跃琳
地址: 541004 广西壮族自*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开一种基于沟槽方式的通道分压场效应管及生产方法,其利用沟槽方式,再通过扩散制作一n型通道连接沟道与漏极,n型通道所形成的十字型结构或T字形也是3D结构,PN之间形成空乏区(耗尽层)从单一的垂直方向改变为垂直与水平两个方向,这样可以大幅提高这个区域的耐压,从而可以增加N通道的掺杂浓度,进而又起到降低导通电阻的作用;同时,上述结构中栅极底部与漏极之间由P外延阻隔,从而使栅极底部与漏极之间的电容基本为零;并且通道与沟道的接触部分较小,可以大幅消除栅极和Drain之间的电容,可以大幅减少Gate开关时的充、放电时间(Qgd可以大幅降低),从而提高了MOS管的开关速度。
搜索关键词: 基于 沟槽 方式 通道 压场 效应 生产 方法
【主权项】:
基于沟槽方式的通道分压场效应管的生产方法,其特征是包括如下步骤:(1)在N+衬底(4)上生长P型外延层(5);(2)在P型外延层(5)上光蚀刻出多条条状沟槽,且各条状沟槽均一直蚀刻到N+衬底(4)界面;(3)在条状沟槽的下部填充n+型单晶硅;(4)在条状沟槽的上部填充P型单晶硅,并清洁表面;(5)在剩余P型外延层(5)上再次光蚀刻出多条条状槽;每条条状槽均处于2条条状沟槽之间;(6)在步骤(5)所得晶体的表面生长氧化层(9),该氧化层(9)位于条状槽的底部和侧壁、P型外延层(5)的上表面、以及P型单晶硅的上表面;(7)在覆盖有氧化层(9)的条状槽中沉积良导体(8),并在功能区外连接到一起形成栅极(2);(8)从步骤(7)所得晶体的表面向下扩散推结,使得步骤(3)填充的n+型单晶硅形成T形或十字形的n型通道(6);接着在该n型通道(6)的横向通道上开设接触孔,并使得体区P(7)与P型外延层(5)在功能区外围相连通;(9)从步骤(7)所得晶体的表面向下扩散推结形成源区N+(10);(10)在步骤(9)所得晶体的表面沉积硼磷硅玻璃(11)保护栅极(2);(11)在硼磷硅玻璃(11)上光刻出多个接触槽,且每个接触槽的位置与1条状沟槽相对,接触槽位于条状沟槽的正上方;(12)在每个接触槽的底部填充金属形成金属塞(12);(13)对步骤(12)所得晶体进行蒸铝操作,以在该晶体的上表面形成源极(3);(14)减薄步骤(13)所得晶体的N+衬底(4),并在减薄的N+衬底(4)下表面背金形成功率场效应管的漏极(1)。
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