[发明专利]一种优化的K-edge成像方法无效
| 申请号： | 201310461840.3 | 申请日： | 2013-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN103530849A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 何鹏;魏彪;丛文相;王革;冯鹏 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T11/00 |
| 代理公司： | 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 | 代理人： | 刘小红 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种优化的K-edge成像方法，本方法在K-edge前后两个X射线能量段进行成像以提高已知材料成像对比度。K-edge前后两个X射线能量段的宽度决定了两个能谱CT图像的对比度和噪声水平，针对如何设置K-edge前后两个X射线能量段的宽度问题，本发明引入信号差异噪声比（Signal Difference to Noise Ratio,SDNR）作为最优化准则，在这个最优化准则的约束下，选取了最优的X射线能量段的宽度，然后进行K-edge成像。这种成像方法，能够在保证两个重建能谱CT图像感兴趣区域噪声最小化的同时，可以获得最大的对比度差异，从而达到提高已知材料成像对比度的目的。可以用于生物医学CT成像领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 优化 edge 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种优化的K‑edge成像方法，其特征在于:在K‑edge两侧取两个X射线能量段进行K‑edge成像，其中所述两个X射线能量段宽度相等，且利用信号差异噪声比作为最优化约束准则，获取使信号差异噪声比最大的最佳的X射线能量段宽度w，以此进行CT成像。
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