[发明专利]元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统有效
| 申请号： | 201310464433.8 | 申请日： | 2013-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN103514330A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 林晓玲;肖庆中 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 王茹;曾旻辉 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统，所述方法包括以下步骤：采集各门类电子元器件的失效信息；所述失效信息包括：失效分析方法、失效现象、失效模式、失效机理、失效环境；构建各失效信息之间的关联关系；以所述失效模式为触发点，根据各失效信息之间的关联关系构建元器件失效分析专家系统中的失效分析流程。本发明的元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统，满足了在元器件失效分析专家系统中构建不同门类电子元器件失效分析流程的需求，使失效分析专家系统成为一种具有逻辑判断功能、可辅助完成实际失效分析的电子手段。 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 失效 分析 专家系统 流程 构建 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法，其特征在于，包括以下步骤：采集各门类电子元器件的失效信息；所述失效信息包括：失效分析方法、失效现象、失效模式、失效机理、失效环境；构建各失效信息之间的关联关系；以所述失效模式为触发点，根据各失效信息之间的关联关系构建元器件失效分析专家系统中的失效分析流程。
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