[发明专利]完整成像无畸变精密测量X光机系统无效

专利信息
申请号: 201310465792.5 申请日: 2013-10-09
公开(公告)号: CN103472079A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 林毅宁 申请(专利权)人: 昆山善思光电科技有限公司
主分类号: G01N23/083 分类号: G01N23/083;A61B6/00
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 郭俊玲
地址: 215300 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种完整成像无畸变精密测量X光机系统,包括探测器、载有电池测试样品的载物台、X光源,所述探测器设于载物台上方,所述X光源设于载物台下方,所述载物台的两边设有光电感应器,所述载物台为传输式载物结构,所述探测器为线扫描图像探测器,且与X光源在同一个垂直方向上,避免了面板探测器造成的图像错切畸变问题,通过水平传输式的载物台控制电池测试样品移动进行被测物的完整成形,能够得到与被测物接近的原始图像,大大提高了X光机的检测效果与测量的准确性。
搜索关键词: 完整 成像 畸变 精密 测量 系统
【主权项】:
一种完整成像无畸变精密测量X光机系统,包括探测器(1)、载有电池测试样品(4)的载物台(2)、X光源(3),所述探测器(1)设于载物台(2)上方,所述X光源(3)设于载物台(2)下方,其特征在于:所述载物台(2)的两边设有光电感应器(5),所述载物台(2)为传输式载物结构,所述探测器(1)为线扫描图像探测器,且与X光源(3)在同一个垂直方向上,载物台(2)将电池测试样品(4)传送到光电感应器(5)处,启动探测器(1)开始截取电池测试样品(4)当前截面图像。
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