[发明专利]磁场检测装置和磁场检测方法有效
申请号: | 201310467722.3 | 申请日: | 2013-10-09 |
公开(公告)号: | CN103728573B | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | T·锡南奥格鲁;A·叶米利 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明实现一种磁场检测装置以及一种相应的磁场检测方法。所述磁场检测装置具有一个线圈芯(K)、一个与所述线圈芯(K)耦合的接收线圈(S0)、多个与所述线圈芯(K)耦合的、电分离的激励线圈(S1‑Sn)、一个用于通过所述多个与所述线圈芯(K)耦合的激励线圈(S1‑Sn)的相应的激励电流(I1‑In)产生磁场激励的激励装置(2、3、D、A1‑An;2’、3、D、A1’‑An’)、一个用于分析处理通过与所述线圈芯(K)耦合的接收线圈(S0)接收的磁场信号(B)的分析处理装置(1)。 | ||
搜索关键词: | 磁场 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种磁场检测装置,其具有:一个线圈芯(K);一个与所述线圈芯(K)直接耦合的接收线圈(S0);多个与所述线圈芯(K)直接耦合的、电分离的激励线圈(S1‑Sn);一个激励装置(2、A1‑An;2’、A1’‑An’),其用于通过所述多个与所述线圈芯(K)直接耦合的激励线圈(S1‑Sn)的相应的激励电流(I1‑In)产生磁场激励;一个分析处理装置(1),其用于分析处理通过与所述线圈芯(K)直接耦合的接收线圈(S0)接收的磁场信号(B),其中,所述激励装置(2、A1‑An;2’、A1’‑An’)如此设计,使得所述激励装置能够选择性地通过所述多个与所述线圈芯(K)直接耦合的激励线圈(S1‑Sn)的子组产生所述磁场激励。
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