[发明专利]一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法

摘要

本发明属于量子保密通信技术领域，提出了一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法，包括以下步骤：步骤一：确定需要测试的量子密钥分发系统中的关键器件及各关键器件的关键测试参数；步骤二：在关键测试参数中选择主变参数，其余参数作为从变参数；步骤三：通过人机控制界面设置各主变参数的值，测试从变参数；步骤四：将测试数据写入数据库；步骤五：分析数据库中测试数据，显示分析结果；步骤六：对分析结果进行判断，如有必要返回步骤三继续测试；步骤七：对数据库中的所有测试数据进行统计分析，得出测试结论。本发明基于对测试数据的分析结果，来控制关键测试参数，一定程度上消除了测试中的盲目性，提高了测试效率，降低了测试成本。

主权项

1.一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：确定需要测试的量子密钥分发系统中的关键器件及各关键器件的关键测试参数；步骤二：在关键测试参数中选择主变参数，其余参数作为从变参数；步骤三：通过人机控制界面设置各主变参数的值，测试从变参数；步骤四：将测试数据写入数据库；步骤五：分析数据库中测试数据，显示分析结果；步骤六：对分析结果进行判断，如有必要返回步骤三继续测试；步骤七：对数据库中的所有测试数据进行统计分析，得出测试结论；所述步骤一中的需要测试的量子密钥分发系统中的关键器件至少包括如下的一种或几种：单光子探测器，诱骗态光源，光模块，密钥协商模块；其需要测试的关键测试参数至少包括如下的一种或几种：单光子探测器的有效门宽、暗计数、探测率，诱骗态光源的底宽、半高宽、波长，光模块的光损耗，及密钥协商模块的成码率、错误率和反馈效率；所述步骤五中分析测试数据的方法为：通过分析关键测试参数的相关性，功能性关键测试参数与能代表量子密钥分发系统性能的关键测试参数之间的相关性，分析各关键测试参数在各个取值区间的统计特性；所述步骤六中对分析结果进行判断的方法为：根据步骤五中获得的关键测试参数的相关性和各关键测试参数在各个取值区间的统计特性，判断数据库中测试数据的完整性，参照测试目的，如果发现还有需要测试的主变参数取值组合，则返回步骤三继续测试。