[发明专利]检测仪、具有该检测仪的测量系统以及测量方法有效
| 申请号： | 201310476268.8 | 申请日： | 2013-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN104613898B | 公开（公告）日： | 2018-04-13 |
| 发明（设计）人： | 石泉 | 申请（专利权）人： | 石泉 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙)11382 | 代理人： | 王凤华 |
| 地址： | 201206 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测仪，该检测仪用于测量具有镜面反射特征的物体表面的三维形状，所述检测仪包括支撑框架（5）；控制电机（4），所述控制电机固定在所述支撑框架上；面光源投影设备（3），所述面光源投影设备连接在所述控制电机的电机主轴上；和主控电脑，所述主控电脑与所述投影设备连接，其特征在于，所述投影设备显示黑白条纹，所述黑白条纹能够在被测物体表面上产生明暗反射条纹，通过所述控制电机调整所述投影设备的工作位置，从而根据所述投影设备相对于所述控制电机的位移关系并通过所述明暗反射条纹的变化来测量被测物体表面的三维形状。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 具有 测量 系统 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
一种检测仪，所述检测仪用于测量具有镜面反射特征的物体表面的三维形状，所述检测仪包括：支撑框架(5)；控制电机(4)，所述控制电机固定在所述支撑框架上；面光源投影设备(3)，所述面光源投影设备连接在所述控制电机的电机主轴上；和主控电脑，所述主控电脑与所述投影设备连接，其中所述投影设备显示黑白条纹，所述黑白条纹能够在被测物体表面上产生明暗反射条纹，通过所述控制电机调整所述投影设备的工作位置，从而根据所述投影设备相对于所述控制电机的位移关系并通过所述明暗反射条纹的变化来测量被测物体表面的三维形状，通过所述投影设备相对于控制电机的位移关系来检测三维形状：其中，do代表投影设备上的一个发光点到镜面的距离，为物距；di代表该发光点通过玻璃曲面成像后所得虚像点到镜面的距离，为像距；f是为此发光点成像所用到的该镜面的焦距。
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