[发明专利]一种利用曲线拟合提高超声测厚精度的方法有效

专利信息
申请号: 201310476895.1 申请日: 2013-10-14
公开(公告)号: CN103486987A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 杨帆 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: G01B17/02 分类号: G01B17/02
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种利用曲线拟合提高超声测厚精度的方法,利用超声信号在零点上下的一个小时间段内近似于一条直线,且信号幅度越高,越近似于直线,通过采集回波信号正最大峰值或负最大峰值两侧的零点上下两相邻采样点,通过采样点进行直线拟合,计算出特征点在拟合曲线上对应坐标,并将该坐标送到厚度计算模块计算被测物体厚度。该方法使用曲线拟合算法补偿采样精度,使得超声测厚精度在采样时钟频率不变的情况下得到有效提高,以满足某些场合对测厚精度的要求,降低硬件实现复杂度,提高实现可靠性。
搜索关键词: 一种 利用 曲线拟合 提高 超声 精度 方法
【主权项】:
一种利用曲线拟合提高超声测厚精度的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)采样点获取模块在预先设定用于厚度测量的两个回波区域内根据特征点的选取获取采样点:用于测厚的两个回波区域由闸门设定,闸门包括宽度和高度两个参数,根据工艺要求人工设置,采样点获取在闸门宽度范围内进行,闸门高度定义为闸门所在位置纵坐标Y,采样点获取模块根据特征点选取采集回波中同一时刻Y<= 0,Y>= 0两个采样点,并保存;2)曲线拟合模块采用直线拟合算法,将步骤1)获得回波中两个采样点拟合成一条直线,与纵坐标交的点为特征点,得到两个回波中的特征点X1和X2;3)将计算出的两个回波的特征点X1和X2送入厚度计算模块,计算被测物体厚度,被测物体厚度S计算公式如下:S = (|X1 ‑ X2|) * t * V,其中t为两次回波中特征点对应的时间差,即两次回波采样点采集时间差,V为被测物体中声速。
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